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题目内容 (请给出正确答案)
[单选题]

以NPN型漂移晶体管为例,基区内建电场的存在加速了在基区中的运动,该载流子做运动。()

A.电子,扩散

B.电子,漂移

C.电子,漂移和扩散

D.空穴,漂移

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第1题
下面哪一种方法是不能提高npn晶体管的发射效率()。

A.提高发射区的掺杂浓度

B.采用宽禁带基区材料

C.减小基区掺杂浓度

D.减少发射结复合电流

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第2题
下面哪一种不是异质结双极型晶体管的特点()。

A.基区禁带宽

B.基区宽度窄

C.基区掺杂浓度高

D.特征频率高

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第3题
在双极型晶体管中,提高集电区掺杂浓度可以抑制:()。

A.集电区穿通效应

B.Early效应

C.基区穿通效应

D.Webster效应

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第4题
双极型晶体管具有电流放大能力的条件不包括()。

A.基区宽度足够小

B.发射结正偏

C.集电结反偏

D.发射结及集电结的结电阻足够小

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第5题
平面双极型晶体管的实际工艺中,基区的掺杂采用杂质总量不变的方法而形成的分布是()。

A.均匀分布

B.线性分布

C.高斯分布

D.余误差分布

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第6题
求解下列问题:(1)已知一NMOS管的W/L=10,IDQ=0.1mA,VTN=0.5V,K'n=387μA/V2
求解下列问题:(1)已知一NMOS管的W/L=10,IDQ=0.1mA,VTN=0.5V,K'n=387μA/V2

求解下列问题:(1)已知一NMOS管的W/L=10,IDQ=0.1mA,VTN=0.5V,K'n=387μA/V2,沟道长度调制效应可忽略。试求VGSQ的值。(2)已知一NPN型BJT的lEQ=0.1mA,IES=6x10-15mA ,基区宽度调制效应可忽略。试求VBEQ的值。

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第7题
晶体管符号上的箭头朝外,则表示为()。

A.硅管

B.锗管

C.NPN管

D.PNP管

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第8题
引起晶体管基区宽度调制效应的主要原因是()。

A.发射结正偏电压变化

B.集电结反偏电压变化

C.基区少子浓度梯度变化

D.发射结势垒宽度变化

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第9题
PN结的净电流为零的原因是:空间电荷区自建电场使载流子的漂移运动和扩散运动达到动态平衡。()
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第10题
晶体管内部由3层半导体材料构成,分别称为发射区、基区和集电区,结合处形成两个PN结,分别称为发射极和集电极。()
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第11题
关于“载流子的迁移率”,以下说法正确的是:()。

A.迁移率是单位电场强度下载流子的平均漂移速度的绝对值

B.迁移率反应载流子在电场中漂移运动的难易程度

C.电子的迁移率为正

D.电子的迁移率大于空穴的迁移率

E.电子的迁移率为负,空穴的迁移率为正

F.电子的迁移率小于空穴的迁移率G、电子的迁移率等于空穴的迁移率

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