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[单选题]

X射线荧光元素录井,对不易压制成片的样品添加粘结剂,粘结剂成份宜使用纤维素应不含原子序数大于()号的元素,并注明粘结剂名称及样品号。

A.10

B.11

C.12

D.157

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第1题
X射线荧光元素录井仪器标定,在进行道值标定时,要求脉冲计数相对误差应不大于()。

A.1%

B.2%

C.3%

D.5%

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第2题
X射线荧光元素录井仪器,使用1年或主元素含量相对标准偏差大()时,应对仪器进行标定。(出自Q/SY1862-2016)

A.6%

B.5%

C.3%

D.2%

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第3题
X射线荧光元素录井仪器标定,进行道值标定时,元素的起始道值和结束道值偏离应不大于()道值。

A.1个

B.2个

C.3个

D.4个

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第4题
X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。()
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第5题
用X射线照射样品物质所产生的()称为X射线荧光,用其分析物质所含元素种类及含量的方法称为X射线荧光分析法。
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第6题
X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().

A.部分元素的含量

B.全部元素的含量

C.矿物含量

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第7题
X射线荧光分析仪是利用射线轰击样品,测量所产生的(),以确定样品中元素的种类与含量的仪器。

A.X射线

B.特征X射线

C.β射线

D.γ射线

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第8题
在实际操作XRF仪器进行测试样品时,表述正确的有()
A.XRF能对元素进行定量和定性分析的是因为对由元素A和B所构成的样品进行X射线照射后,各个元素都会发生荧光X射线,但因两者所持能量强度不同,所以可以辨别B.样品按均质样品的测试原则拆分C.实际测试样品时,对于胶料我们一般选用标准曲线法,对于金属全部用金属FP法来测定D.样品的制备对测试结果有决定性的影响,实际测量中一定要使样品无污染,平整并有一定的厚度E.非均质样品(如:电子元器件)可以用XRF仪器直接扫描F.对于原子序数高于50的元素,一般必须使用它们的L系谱线来进行测定
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第9题
地化录井目的层储集岩样品挑选应在荧光灯下进行。()
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第10题
定量荧光录井要求每个样品质量不得小于5g,混合样质量不得小于10g。()
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第11题
地化录井储集层荧光以上油气显示层,每个样品质量应大于()mg。

A.200

B.300

C.500

D.600

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