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[单选题]
扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力()。
A.成正比
B.成反比
C.成线性关系
D.成一定的函数关系
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A.成正比
B.成反比
C.成线性关系
D.成一定的函数关系
A.传感器隔离膜片发生了位移
B.硅片的两侧形成了差压
C.桥路电源开路或扩散硅传感器开路
D.量程微调电位器损坏
A.正温度系数热敏电阻未达居里点前电阻随温度变化非常缓慢
B.正温度系数热敏电阻未达居里点前电阻随温度变化非常明显
C.负温度系数热敏电阻广泛应用于需要定点测温的温度自动控制电路
D.正温度系数热敏电阻使用寿命长,适用于电动机等电器装置的过热探测