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题目内容 (请给出正确答案)
[单选题]

FC是一种将芯片PAD有bump的特殊芯片,在蘸助焊剂后正面()贴装在引线框架引脚上,经回流进行焊接的工艺。

A.向下

B.向上

C.向左

D.向右

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第1题
在图NP5-24(a)所示耦合回路相位鉴频电路中,如果发现下列一种情况,鉴频特性曲线将如何变化?(1)

在图NP5-24(a)所示耦合回路相位鉴频电路中,如果发现下列一种情况,鉴频特性曲线将如何变化?(1)次级回路未调谐在中心频率fc上(高于或低于fc);(2)初级回路未调谐在中心频率fc上(高于或低于fc);(3)初、次级回路均已调谐在中心频率fc上,而耦合系数k由小变大。

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第2题
造成芯片银浆沾污的原因有()

A.点胶气压太大

B.吸嘴与芯片尺寸不匹配

C.点胶参数设置不当

D.上芯压条偏移

E.三点偏移

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第3题
海芯公司推出的电子秤专用HX711型ADC芯片是()位的AD芯片。

A.14位

B.16位

C.18位

D.24位

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第4题
上芯后兰膜检查项目有哪些()。

A.顶针孔位置是否位于芯片中心

B.多顶针系统顶针印痕迹轻重程度是否一致

C.顶针孔是否有顶破兰膜,造成兰膜缺损

D.兰膜上是否有硅渣及背崩残留

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第5题
对于双芯片上芯产品,上芯应先加工绝缘胶产品。()
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第6题
关于上芯顶针痕迹监控项目,描述错误的有:()。

A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批

B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格

C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良

D.在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取

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第7题
WAFERMAPPING产品在上芯过程中若出现跳行。跳列有芯片遗漏在蓝膜上时,不能用手工补片或移行
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第8题
芯片起子的作用()。

A.用于拆除贴片集成电路芯片

B.用于拆除安装在插座中的双列直插式集成电路芯片

C.用于拆除QFN封装的集成电路芯

D.用于拆除QFP封装的集成电路芯片

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第9题
将配送简单地看成运输的一种,是不太确切的,从配送独特的分拣、加工、分割、组配等配货作业环节来看,应把配送理
解为一种特殊的、综合的物流活动。( )
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第10题
FCoE是将FC中的帧可以封装在无损以太网中传输协议标准,应用于组建存储网络。()
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第11题
80386 DL是基于80386 DX的一种______芯片。
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